MIA_Toolbox 以及 Solo+MIA 平台中的 TrendTool 现已适配图像数据
，用户可借助光谱域对多变量图像的各个层进行索求
。通过设置象征并拖拽
，即可在趋向图中实时观察对应变动
。

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象征丈量模式

TrendTool 提供四种象征丈量方式：

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• 地位高度：默认模式
  ，绘造单个象征处的数值
  ，相当于提取特定变量下的图像“层”
  。

• 积分面积：对两个象征之间的全数数值进行求和
  。

• 峰地位：定位两个象征之间的蕞大数值地点地位
  。

• 峰宽度：推算两个象征之间蕞大峰的半高宽
  。

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除“地位高度”模式表
，启用其他模式时象征会割裂为两个同色象征
，由这两者界定待分析区域的天堑
。趋向光谱图可通过画图控件或显示工具栏调整
。

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象征工具栏与趋向显示选项

象征工具栏蕴含自动象征峰、翻转 x 轴方向及刷新趋向显示窗口等职能
。

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图像工具栏则提供多种显示编纂：

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• 保留趋向了局：将蕴含推算了局、标签和坐标刻度的 DataSet 对象保留
  。

• 天生了局图：在独立窗口中天生了局曲线图
  ，可选择查看单一了局
  。象征改观后需沉新再次天生
  。

• 选择像素区域：在图像上框选区域
  ，将对应底层数据回传到 TrendTool 数据视图中
  ，便于分析特定区域
  。

• 自动对比度：裁切异常高/低值（超出 3 倍尺度差）
  ，使色彩刻度更有效出现图像差距
  。

• 表表图显示：将图像切换为三维表表图（高度代表丈量参数）
  ，支持旋转编纂
  。

• 插值调节：增长或削减像素间插值
  ，可改善低分辨率图像的二维或三维特点可辨识度
  。

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该职能强化了化学计量学分析中对图像数据部门散布与光谱变动的交互式索求能力
。

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