Match!是一款易于使用的软件，用于使用粉末进行相分析衍射数据
。它将样品的衍射图案与蕴含参考图案的数据库进行比力，以确定存在的相位
Ｄ芄缓苋菀椎乩糜泄匮返钠渌，如已知的相位，元素或密度
。

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除了这种定性分析之表，还能够进行定量分析（使用Rietveld细化）
。您能够在Match!中轻松设置和运行Rietveld细化，现实推算为在后盾使用法式FullProf（由J. Rodriguez-Carvajal设计）自动执行
。 Match!从全自动到“专家”模式，和善地介绍了Rietveld的改进
。该软件可在Windows、macOS和Linux上原生运行
。

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Match!新版本4刚刚推出，提供配置文件拟合搜索匹配（PFSM），作为经过验证的基于峰值的搜索匹配的壮大代替规划，用于定性分析
。

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（新的配置文件拟合搜索匹配职能的现实利用：在水泥样品上运行的新型材拟合搜索匹配职能）

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像早期版本的Match!一样，能够利用随附的免费COD数据库，使用任一ICDD PDF产品作为参考数据库，或凭据您自己的衍射图创建用户数据库
。用户数据库模式能够手动编纂，从峰值文件导入，推算从晶体结构数据（例如CIF文件）中导入，或从同事的用户数据库
。

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以下是版本4中的新增职能：

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概括拟合搜索匹配

重要改进是所谓的“配置文件拟合搜索匹配”（PFSM），这是一种壮大的创新 用于定性物相分析的成熟基于峰的搜索匹配职能的代替规划
。新函数将从当俏拷寮数据库（或答案集）的每个候选条款推算的配置文件动态拟合到尝试配置文件中， 因而，定性相分析不再必要有时闪动其词的峰搜索
。

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新职能无需其他软件即可使用，即不必要Rietveld软件（如FullProf）！事实上，现实上没有执行Rietveld细化，由于没有细化结构参数
。

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其工作道理如下：在幼我资料拟合搜索匹配期间，Match!推算参考数据库（或答案集）的每个条款标配置文件模式，并且同时拟合强度比例因子和2theta位移，以便与尝试剖面衍射图获得一致性
。候选条款凭据各个拟合推算得出的Rwp值进行排名，或者正确地说， 削减从相应的新候选条款将实现的选定阶段推算的Rwp值D（Rwp）
。

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剖面拟合搜索匹配（PFSM）的重要利益是不必要峰值搜索，从而预防了由此可能产生的歧义
。

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另一个沉要的优势（与下面引用的Rietveld细化搜索匹配步骤相比）是Match!能够使用任一通例的峰值数据参考数据库，如COD、ICDD PDF-2、PDF-4、自己的衍射图等
。不必要相识候选相的原子参数！

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固然这种新步骤的成功率注定高于“经典”（基于峰）步骤（尤其是次要或跟踪阶段）， 当然有一个重要弊端：推算功夫更长
。为了添补这一点 在某种水平上，配置文件拟合 search-match默认在CPU的所有可用内核上并走运行
。 也能够将推算限度在较少数量的CPU内核（或单个内核），以使您的推算机对其他工作更具“响应性”
。

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除了幼我资料拟合搜索匹配表，Match!版本4提供了很多其他沉要改进：

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• 改进了定量RIR分析中对没有I/Ic值的条款标处置，例如在使用ICDD PDF-2数据库时：匹配列表中短缺的I/Ic值此刻能够从导入的晶体结构数据（CIF）中推算或手动输入
  。
• 新菜单指令“Quantify / Rietveld refinement（FullProf）”使用当前选定的功夫表（-> Rietveld 选项）执行自动Rietveld细化推算以进行定量分析
  。
• 新的“定量分析”选项“在饼图图形标题中显示定量分析步骤”和“执行定量分析后自动切换到饼图图形”
• 新菜单指令“条款/自动条款选择”自动选择匹配的阶段
  Ｄ芄辉凇把∠睢贝翱诘摹八阉髌ヅ洹毖∠羁ㄉ系摹癙F 搜索匹配”部门调整所需的蕞幼Rwp削减（也用于自动选择条款）
  。
• 新的菜单指令“编纂/复造候选列表”将左下角候选列表确当前内容复造到剪贴板中，以便将其插入到其他法式（例如Microsoft Excel）中
  。
• 新的菜单指令“编纂/复造匹配列表”将匹配列表确当前内容（选择为“匹配”的阶段）复造到剪贴板中，以便将其插入到其他法式（例如Microsoft Excel）中
  。
• 在正常（基于峰值的）搜索匹配期间陆续显示已找到的了局
• 对于macOS，此刻有单独的ARM（Apple Silicon）和Intel处置器版本
  。这显著提高了 Apple Silicon的推算速度，同时减幼了内存开销
  。
• 演示版有新的署名，让Match!4演示版能够运行60天，即便Match!3演示版已过期
  。
• 解决了导致后盾节造点彼此靠得太近后不再可移动或可移动的问题
  。
• 建改了影响结晶度（DOC）沉新推算的谬误
  。
• 建改了另一个有时会影响峰值搜索中峰值地位精度的谬误
  。
• 有一个谬误影响了图案图形中x轴的“1/d”缩放，该谬误现已建改
  。

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系统要求

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Windows

• 装有Microsoft Windows 7、8/8.1、10或11系统（32位或64位）的幼我推算机
• 8GB内存
• 拥有2.5GB以上可用磁盘空间的硬盘
• 图形分辨率为1024 x 768像素（建议为1280 x 800像素或更高）
• FullProf版本2018年1月（或之后）必要Rietveld改进

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macOS系统

• 合用于 Apple Silicon（ARM）的版本：搭载Apple Silicon M1、M2、M3处置器和macOS 11“Big Sur”系统（或更新机型）的Mac
• 合用于Intel Mac的版本：搭载Intel（或Apple芯片）处置器和macOS?10.13“High Sierra”系统（或更高版本）的Mac
• 8GB内存
• 拥有2.5GB可用磁盘空间的硬盘
• 图形分辨率为1024 x 768像素（建议为1280 x 800像素或更高）
• FullProf版本2018年3月（或更高版本）必要Rietveld改进

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Linux系统

• 装有Linux（Intel 64 位）和glibc 2.27（或更高版本）的幼我推算机
• 8GB 内存
• 拥有2.5GB可用磁盘空间的硬盘
• 图形分辨率为1024 x 768像素（建议为1280 x 800像素或更高）
• FullProf版本2018年2月（或更高版本）必要Rietveld改进

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【英文介绍】

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Match! is an easy-to-use software for phase analysis using powder diffraction data. It compares the diffraction pattern of your sample to a database containing reference patterns in order to identify the phases which are present. Additional knowledge about the sample like known phases, elements or density can be applied easily.

In addition to this qualitative analysis, a quantitative analysis (using Rietveld refinement) can be performed as well. You can easily setup and run Rietveld refinements from within Match!, with the actual calculations being performed automatically, using the well-known program FullProf (by J. Rodriguez-Carvajal) in the background. Match! provides a gentle introduction into Rietveld refinement, from fully automatic operation to the "Expert" mode. The software runs natively on Windows, macOS and Linux.